目標化合物兩個批次樣品（樣品1和樣品2）的XRPD譜圖極其相似，兩個樣品的表征數據具有顯著差異：TGA結果顯示兩個樣品在100°C之前分別出現 1.5% 和 3% 的失重，由于樣品的晶體結構未知，無法確認樣品1和樣品2是否為同一晶型。
MicroED技術可用于區分結構高度相似的不同晶型，降低產品中存在混合晶型的風險：
- MicroED結果解釋了樣品1和樣品2雖然具有相似XRPD光譜，但具有完全不同的晶體結構。
- 如果沒有發現這兩種結構，可能導致最終樣品中含有混合晶型，進而影響理化性質與質量管控。
- 案例結果表明，在僅有粉末晶體樣品時，MicroED是快速且有效判定多晶型晶體結構的有利方法。
